避免测量问题

条件	影响	建议
应用于被测设备（DUT）的功率	电阻元件中的自加热引起温度效应和相应的电阻变化。	使用低测试信号或脉冲测量。散热DUT。允许电阻功率系数的影响。使用低功率系数组件。
施加到DUT的高压	一些高阻电阻具有显着的电阻电压系数。	使用低电压系数组件。在低电压下测量。允许电阻电压系数的影响。
环境温度	温度系数影响;大的运输或储存温度变化可能导致永久性回扫效应。	保持稳定的温度，并尽量减少极端温度。
湿度	湿度可能会对高阻部件造成泄漏影响。	保持相对湿度低于50％。
热电动势	热电动势，即在温度梯度下在不同金属的触点处产生的电压，可能导致错误的电压和电阻测量。	使用铜。去铜。尽可能接触和引导;银触点和焊料是可以接受的。避免使用钢和黄铜。最大限度地减少温度梯度或气流。使用开关或“真欧姆”测量仪器。替代导致确定问题的程度。
低阻力	引线电阻和热电动势可能会引入误差。	使用4线测量，开尔文引线。见热电动势（上图）。
高阻力	由湿度引起的铅绝缘和台面泄漏可能会导致错误。	使用低泄漏绝缘材料，如铁氟龙将DUT设置在高绝缘子板上。保持所有终端清洁。屏蔽并避免高压和附近的移动。使用5或6个端子保护电路。
接地回路	接地电流会引入噪声和失调电压。	仅使用径向接地到一个参考点。
测试条件	大多数电阻器，电容器和电感器都不理想;线绕电阻器是电感式和电容式的;电容器有损耗，电感器可能非常电阻。电压，频率和模型（并联或串联）的测试条件对于测量可能是重要的。	应用作为DUT最具代表性的型号的仪器测试条件。